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二箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱 兩廂冷熱沖擊試驗(yàn)箱采用7寸真彩LCD觸摸屏,比其它屏更大，更直觀，操作更簡(jiǎn)單,運(yùn)行更穩(wěn)定并且更節(jié)能,具有USB接口直接拷貝及記錄功能，包括歷史曲線(xiàn),歷史數(shù)據(jù)等，直接拷貝到計(jì)算機(jī)查看分析及存盤(pán)。

兩槽式冷熱沖擊試驗(yàn)箱 支持定制 可程式 電子芯片lC、半導(dǎo)體材料陶磁及纖維材料之物理學(xué)性轉(zhuǎn)變，檢測(cè)其原材料對(duì)高低溫試驗(yàn)的不斷低抗拉力及商品于熱漲冷縮商品的化學(xué)反應(yīng)或物理傷害，可確定商品的質(zhì)量，從高精密lC到重機(jī)械的部件。

冷熱沖擊兩槽式試驗(yàn)箱 模擬環(huán)境 用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適用的對(duì)象包括金屬，塑料，橡膠，電子…….材料，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。

可程式 冷熱循環(huán)試驗(yàn)箱 TSD- 80F-2P 用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車(chē)配件、金屬、塑膠等行業(yè),國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)，從精密的IC到重機(jī)械的組件,無(wú)-不需要它的理想測(cè)試工具。

可程式 快速冷熱沖擊試驗(yàn)箱 兩箱設(shè)備區(qū)分為:高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部分,測(cè)試產(chǎn)品置于測(cè)試區(qū),沖擊時(shí)高溫區(qū)或低溫區(qū)的溫度沖入測(cè)試區(qū)進(jìn)行沖擊,測(cè)試產(chǎn)品為靜態(tài)。

三箱式冷熱沖擊循環(huán)試驗(yàn)箱 顯示運(yùn)行數(shù)據(jù) 用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車(chē)配件、金屬、塑膠等行業(yè),國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)電子芯片IC、導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化，測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件,無(wú)-不需要它的理想測(cè)試工具。

可程式 冷熱循環(huán)試驗(yàn)箱 TSD- 36F-2P 用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車(chē)配件、金屬、塑膠等行業(yè),國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)，從精密的IC到重機(jī)械的組件,無(wú)-不需要它的理想測(cè)試工具。

兩廂式高低溫沖擊試驗(yàn)箱 試驗(yàn)箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)*的測(cè)試設(shè)備， 用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，得以在Z短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。