恒溫恒濕彎折試驗(yàn)箱薄膜折彎測試

恒溫恒濕彎折試驗(yàn)箱薄膜折彎測試
是一款專門用于測試薄膜屏在不同溫度和濕度條件下性能表現(xiàn)的設(shè)備。它能夠模擬各種惡劣的環(huán)境條件，為薄膜屏的研發(fā)、質(zhì)量檢測和可靠性評估提供重要的技術(shù)支持。

產(chǎn)品型號：
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2025-03-25
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詳細(xì)介紹

恒溫恒濕彎折試驗(yàn)箱薄膜折彎測試

室體結(jié)構(gòu)特征

1．外壁材料：防銹處理冷軋鋼板外噴塑（可選優(yōu)質(zhì)不銹鋼板，需訂購時(shí)說明）

2．內(nèi)壁材料：SUS304不銹鋼板

3．絕熱材料：硬質(zhì)聚氨脂發(fā)泡+超細(xì)玻璃纖維

4．觀察窗：試驗(yàn)箱門中部設(shè)多層玻璃觀察窗，窗內(nèi)裝有9W熒光燈一只

5．測試孔：試驗(yàn)箱左側(cè)設(shè)φ50mm測試引線孔一個

恒溫恒濕彎折試驗(yàn)箱薄膜折彎測試

恒溫恒濕彎折試驗(yàn)箱薄膜折彎測試

控制系統(tǒng)：

1．控制儀：韓國三元TEMP880可編程觸摸屏控制器/臺達(dá)觸控+PLC/西門子觸屏+PLC

2．120組程序，共1200段

3．PT100傳感器，高精度控制，0.01級。

4．SSR固態(tài)繼電器輸出，溫度穩(wěn)定度高。

執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)

GB11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10589-2008低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10592-2008技術(shù)條件（溫度交變）
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分;試驗(yàn)方法試驗(yàn)A;低溫(IEC60068-2-1;2007)
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分;試驗(yàn)方法試驗(yàn)B;高溫(IEC60068-2-1;2007)
GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分;試驗(yàn)方法試驗(yàn)N;溫度變化(IEC60068-2-14)
GJB150.3A-2009設(shè)備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部：高溫試驗(yàn)
GJB150.4A-2009設(shè)備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部：低溫試驗(yàn)

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